Metrohm 789 Robotic Sample Processor XL - Manuel (Page 105)

3.7 Rack d’échantillons
Metrohm Sample Processor, Maniement 97
Béchers spéciaux
Les béchers spéciaux sont des positions réservées sur un rack
d’échantillons. Jusqu’à 16 positions spéciales de bécher par rack peu-
vent être définies. On peut avoir un accès précis à ces positions pen-
dant un déroulement de méthode, sans interrompre ou handicaper le
déroulement de la série d’échantillons. Les béchers spéciaux peuvent
servir à rincer les électrodes au cours d’une séquence d’échantillon ou
à calibrer une électrode au cours d’une séquence initiale (solutions
tampons), etc.
Les positions de béchers spéciaux réservées sont reconnues automati-
quement dans une séquence d’échantillon.
Accès au bécher spécial, avec MOVE 1: spéc.1 .
Pour chaque position spéciale de bécher d’un rack, les réglages sui-
vants peuvent être effectués séparément:
• Position de rack
• Position de travail sur tour 1
• Position de travail sur tour 2
• Rayon de bécher
• Capteur de bécher
Si un bécher spécial est nécessaire dans le déroulement de la mé-
thode, mais que le Sample Processor ne trouve pas de bécher sur la
position réservée, un message d’erreur est alors affiché à chaque fois.