Metrohm 730 Sample Changer Manuel d'utilisation

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4.5 Racks d’échantillons

Passeur d’échantillons 730, Description détaillée

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ainsi choisir le réglage idéal pour chaque rack en fonction de la

hauteur des béchers d’échantillons. Cette opération peut être pro-

grammée dans une séquence de déroulement avec 'LIFT: 1 : rin-

cage mm'.

La position de rotation sert à déterminer la position de la tête de

titrage (élévateur) à laquelle le rack pourra tourner. Si l’élévateur

ne se trouve pas au niveau ou au-dessus de la position de rota-

tion, il sera impossible de déplacer le rack en mode manuel. Cette

mesure est destinée à garantir la sécurité dans la mesure où elle

empêche que la rotation du rack endommage les électrodes. Pour

cela, il faut toutefois que la position de rotation ait été réglée

correctement. Le positionnement de l’élévateur sur la position de

rotation peut être programmé dans une séquence de déroulement

avec 'LIFT: 1: rotat. mm'.

La position spéciale est une position de la tête de titrage (éléva-

teur) supplémentaire qui peut être définie par l’utilisateur. Elle peut

être choisie pour le pipettage avec le bras pivotant tel que la

pointe de pipettage plonge juste dans la solution. On peut ainsi

choisir le réglage idéal pour chaque rack en fonction de la hauteur

des béchers d’échantillons. Cette opération peut être programmée

dans une séquence de déroulement avec 'LIFT: 1 : spéc. mm'.

Béchers spéciaux

Les béchers spéciaux constituent des positions réservées d’un

rack. Il est possible de définir de 0 à 8 béchers spéciaux par rack.

Ils peuvent être placés devant une tour pour certaines opérations

pendant le déroulement d’une méthode, sans que le déroulement

de la série d’échantillons soit interrompu ou entravé. Les béchers

spéciaux peuvent également servir pour rincer l’électrode dans

une séquence d’échantillons ou bien à la calibrer dans une sé-

quence initiale (solutions tampons).

Les béchers spéciaux sont placés devant la tour 1 par 'MOVE 1:

spéc.1'.

Les positions de béchers spéciaux réservées (qui peuvent être dé-

finies séparément pour chaque rack), sont identifiées en tant que

telles dans une séquence d’échantillons et sont "passées" lors du

traitement des différents béchers d’échantillons.

Si un bécher spécial est requis pour le déroulement d’une mé-

thode, mais qu’il n’y a pas de bécher sur la position réservée du

passeur, un message d’erreur est affiché dans tous les cas.

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