Metrohm 730 Sample Changer Manuel d'utilisation
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4.5 Racks d’échantillons
Passeur d’échantillons 730, Description détaillée
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ainsi choisir le réglage idéal pour chaque rack en fonction de la
hauteur des béchers d’échantillons. Cette opération peut être pro-
grammée dans une séquence de déroulement avec 'LIFT: 1 : rin-
cage mm'.
La position de rotation sert à déterminer la position de la tête de
titrage (élévateur) à laquelle le rack pourra tourner. Si l’élévateur
ne se trouve pas au niveau ou au-dessus de la position de rota-
tion, il sera impossible de déplacer le rack en mode manuel. Cette
mesure est destinée à garantir la sécurité dans la mesure où elle
empêche que la rotation du rack endommage les électrodes. Pour
cela, il faut toutefois que la position de rotation ait été réglée
correctement. Le positionnement de l’élévateur sur la position de
rotation peut être programmé dans une séquence de déroulement
avec 'LIFT: 1: rotat. mm'.
La position spéciale est une position de la tête de titrage (éléva-
teur) supplémentaire qui peut être définie par l’utilisateur. Elle peut
être choisie pour le pipettage avec le bras pivotant tel que la
pointe de pipettage plonge juste dans la solution. On peut ainsi
choisir le réglage idéal pour chaque rack en fonction de la hauteur
des béchers d’échantillons. Cette opération peut être programmée
dans une séquence de déroulement avec 'LIFT: 1 : spéc. mm'.
Béchers spéciaux
Les béchers spéciaux constituent des positions réservées d’un
rack. Il est possible de définir de 0 à 8 béchers spéciaux par rack.
Ils peuvent être placés devant une tour pour certaines opérations
pendant le déroulement d’une méthode, sans que le déroulement
de la série d’échantillons soit interrompu ou entravé. Les béchers
spéciaux peuvent également servir pour rincer l’électrode dans
une séquence d’échantillons ou bien à la calibrer dans une sé-
quence initiale (solutions tampons).
Les béchers spéciaux sont placés devant la tour 1 par 'MOVE 1:
spéc.1'.
Les positions de béchers spéciaux réservées (qui peuvent être dé-
finies séparément pour chaque rack), sont identifiées en tant que
telles dans une séquence d’échantillons et sont "passées" lors du
traitement des différents béchers d’échantillons.
Si un bécher spécial est requis pour le déroulement d’une mé-
thode, mais qu’il n’y a pas de bécher sur la position réservée du
passeur, un message d’erreur est affiché dans tous les cas.