3 définitions de rack, Définitions de rack – Metrohm 838 Advanced Sample Processor Manual Manuel d'utilisation
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2.2 Configuration
2.2.3 Définitions de rack
Configuration
>Définitions de rack
Sous-menu pour la définition des racks individuels
Ouvrir le sous-menu avec <ENTER>
>Définition de rack
>>Charger rack
Charger les définitions de rack
Pour effectuer des modifications sur les définitions d’un rack d’échantillons, il
est nécessaire de tout d’abord charger les données de ce rack. Les données
des racks standards Metrohm sont mémorisées sous leurs numéros de
commande respectifs.
>Charger rack
rack: 6.2041.450
Désignation du rack à charger
10 caractères ASCII
Avec la touche <SELECT>, il est possible de faire une sélection à partir des
données de rack mémorisées. Avec <ENTER>, les données de rack sont
chargées. Comme première sélection apparaît la désignation du rack mo-
mentanément installé.
>Charger rack
code 000001
Code magnétique du rack
Voir tableau du chapitre 3.1.1.
000001…111111
Le code magnétique sert à une reconnaissance sans erreur possible d’un
rack spécifique. La reconnaissance du code magnétique a lieu au cours de
l’initialisation du rack. C’est la raison pour laquelle, après chaque change-
ment de rack, il est absolument nécessaire d’appuyer sur la touche
<RACK>.
Pour des raisons de sécurité, il convient de régler le trajet maximal de
l’élévateur, avant d’effectuer des modifications sur les positions d’élévateur,
voir chap. 2.2.2.
>Charger rack
pos. de travail T1
0 mm
Hauteur de travail de l’élévateur pour les
béchers échantillons*
)
0…235 mm
(en mm en partant de la butée supérieure)
>Charger rack
pos. de rinçage T1
0 mm
Hauteur de rinçage de l’élévateur pour
les béchers échantillons*
)
0…235 mm
(en mm en partant de la butée supérieure)
>Charger rack
pos. rotation T1
0 mm
Position de rotation de l’élévateur pour
les béchers échantillons*
)
0…235 mm
(en mm en partant de la butée supérieure)
>Charger rack
pos. spéciale T1
0 mm
Avec
<QUIT>,
accès
au niveau su-
périeur suivant
Position spéciale de l’élévateur pour les
béchers échantillons*
)
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Metrohm 838 Advanced Sample Processor