MTS Dispositif d'alignement série 609 - Manuel (Page 50)

Informations produit du dispositif d'alignement série 609 50
Échantillons crantés, épais et plats
Préparation de l'échantillon
Échantillons crantés, épais et plats
Un échantillon type instrumenté en jauges présente deux niveaux de jauges de
contraintes. Les jauges vous permettent de déterminer les contraintes de flexion
à chaque niveau. L'analyse des valeurs de contrainte détermine un profil
d'alignement des mors.
Positionnement des
jauges
Utilisez huit jauges sur les échantillons épais et plats. Fixez et numérotez-les
de la manière indiquée.
Positionnement des jauges - Échantillons crantés épais et plats
• Positionnez les jauges, par groupes de quatre, sur les parties supérieures et
inférieures de la section à jauge. Centrez chaque jauge entre les bordures de
l'échantillon.
• Positionnez les jauges de la partie supérieure de telle sorte que leurs
bordures supérieures effleurent la bordure supérieure de la section à jauge.
• Positionnez les jauges de la partie inférieure de telle sorte que leurs bordures
inférieures effleurent la bordure inférieure de la section à jauge.
4 3
0° 90° 180° 270°
6 5
1 2
7 8