Échantillons épais et plats, Échantillons épais et plats 39, Positionnement des jauges – MTS Dispositif d'alignement série 609 Manuel d'utilisation
Page 39
Échantillons épais et plats
Informations produit du dispositif d'alignement série 609
Préparation de l'échantillon
39
Échantillons épais et plats
Un échantillon type instrumenté en jauges présente trois niveaux de jauges de
contraintes. Les jauges vous permettent de déterminer les contraintes de flexion
à chaque niveau. L'analyse des valeurs de contrainte détermine un profil
d'alignement des mors.
Positionnement des
jauges
Utilisez douze jauges sur les échantillons épais et plats. Fixez et numérotez-les
de la manière indiquée.
Positionnement des jauges - Échantillons épais et plats
•
Positionnez les jauges, par groupes de quatre, sur les parties supérieures,
moyennes et inférieures de la section à jauge. Centrez chaque jauge entre
les bordures de l'échantillon.
•
Positionnez les jauges de la partie supérieure de telle sorte que leurs
bordures supérieures effleurent la bordure supérieure de la section à jauge.
•
Positionnez les ensembles de jauges du milieu, au milieu de la section
à jauge.
•
Positionnez les jauges de la partie inférieure de telle sorte que leurs bordures
inférieures effleurent la bordure inférieure de la section à jauge.
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
0°
90°
180°
270°