KROHNE OPTISWITCH 3x00C Transistor SIL FR - Manuel (Page 10)

Durée d'un test de diagnostic < 100 sek.
A rchitecture monocanale (1oo1D)
SIL SIL 2
HFT 0
Type d'appareil type B
P rotection antidébor-
dement (fonctionne-
ment maxi.)
P rotection contre la
marche à vide (fonc-
tionnement mini.)
SFF 95 % 94 %
PFD
avg
T
Proof
= 1 an
T
Proof
= 5 ans
T
Proof
= 10 ans
< 0,013 x 10 -2
< 0,066 x 10 -2
< 0,131 x 10 -2
< 0,018 x 10 -2
< 0,088 x 10 -2
< 0,177 x 10 -2
PFH < 0,03 x 10 -6 /h < 0,04 x 10 -6 /h
Le déroulement temporel de PFD
avg
est presque linéaire à la
durée de fonctionnement pendant une période maximale de
10 ans. Les valeurs indiquées précédemment sont valables
uniquement pour l'intervalle T
Proof
après lequel un test de
fonctionnement périodique doit être effectuer.
1 5 10
T
Proof
PFD
avg
1
2
3
4
Fig. 1: Déroulement en fonction du temps de PFD
avg
( valeurs numériques voir
tableaux représentés ci-dessus)
1
PFD
avg = 0
2 PFD
avg
après 1 an
3 PFD
avg
après 5 ans
4 PFD
avg
après 10 ans
T emps de réaction en
cas d'anomalie
C aractéristiques spécifi-
ques
D éroulement en fonction
du temps de PFD
avg
10 OPTISWITCH série 3000 • - Transistor (NPN/PNP)
Sécurité fonctionnelle
32744
-FR
-080414